IEEE 1450.1-2005 半导体设计环境用标准测试接口语言的扩展(STIL)(IEEEStd1450-1999)
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时间:2024-05-20 01:31:11
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【英文标准名称】:ExtensiontoStandardTestInterfaceLanguage(STIL)(IEEEStd1450-1999)forsemiconductordesignenvironments
【原文标准名称】:半导体设计环境用标准测试接口语言的扩展(STIL)(IEEEStd1450-1999)
【标准号】:IEEE1450.1-2005
【标准状态】:现行
【国别】:美国
【发布日期】:2005
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国电气电子工程师学会(IEEE)
【起草单位】:IEEE
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:项目;数据处理;定义;信息交换;信息技术;接口;半导体;测试图;试验规程;试验
【英文主题词】:CASE;Datahandling;Dataprocessing;Definition;Definitions;Informationinterchange;Informationtechnology;Interfaces;Semiconductors;Testpattern;Testprocedures;Testing
【摘要】:
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:35_060
【页数】:124P;A4
【正文语种】:英语
【原文标准名称】:半导体设计环境用标准测试接口语言的扩展(STIL)(IEEEStd1450-1999)
【标准号】:IEEE1450.1-2005
【标准状态】:现行
【国别】:美国
【发布日期】:2005
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国电气电子工程师学会(IEEE)
【起草单位】:IEEE
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:项目;数据处理;定义;信息交换;信息技术;接口;半导体;测试图;试验规程;试验
【英文主题词】:CASE;Datahandling;Dataprocessing;Definition;Definitions;Informationinterchange;Informationtechnology;Interfaces;Semiconductors;Testpattern;Testprocedures;Testing
【摘要】:
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:35_060
【页数】:124P;A4
【正文语种】:英语
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